調整可能なパルス発生器

電源をオフにしてコンデンサを交換することで得られる 2 つの周波数範囲を持つ低速 LED 非安定。テストポイントはコンデンサの波形、出力、デューティサイクルを比較します。

建設とプロトタイプのテストを待っている文書化された設計。値は公称コンポーネントから計算されます。周波数、持続時間、オーディオパワー、安定性は測定されていません。ファイルチェックは電気的テストではありません。

PDIP8 の NE555P、電流制限付きの 5.00 V に設定された絶縁ベンチ電源。短い接続、マルチメータ、および適切なプローブを備えたオシロスコープを使用してください。これらはベンチプロジェクトです。それらの出力は送信機を制御しません。

10 µFのCTでは、公称周波数は0.626から4.8 Hzまで変化します。これを 1 µF に置き換えると、6.26 ～ 48 Hz になります。高デューティ サイクルは 50% を超えたままとなり、RV1. STOP が RESET を低く保つことで変化します。

NE555 PDIP8、上面図: 1 GND, 2 TRIG, 3 OUT, 4 RESET, 5 CONT, 6 THRES, 7 DISCH, 8 VCC。挿入する前に、ノッチ、パッケージ、メーカーのピン配置を確認してください。ポテンショメータの端子名はその機能を説明するものであり、普遍的な物理的順序ではありません。

CDEC をピン 8 および 1 の近くに配置し、CCONT をピン 5 の近くに配置します。 TIMING と TRIGGER の配線は短くしてください。オーディオ ロード リターンは、敏感な入力リターン パスを共有してはなりません。認定された PCB は提供されません。

電源をオフにして、ソケットを識別し、値を確認します。導通チェック中は IC をソケットから外さないでください。

J1、グランドおよび電源コンデンサを配線します。ショートがないか、極性が正しいかを確認してください。

ネットリストから NE555 ピンを配線し、次に CCONT とタイミング ネットワークを配線します。

TIMING. RA でピン 2 と 6 を結合し、V5 を DISCHARGE; RB に接続し、RV1 を TIMING に接続します。ポテンショメータ W と B を結合します。

CT の 10 µF を TIMING に正に当てはめ、次に STOP と LED を当てはめます。代替の 1 µF コンデンサは別にしておいてください。並行して追加するのではなく、CT を置き換えます。

すべてのネットをチェックし、電源を切り、IC を正しい向きで挿入し、テスト ポイントを準備します。

5.00 V および初期 50 mA 電流制限を設定します。パワーアップ;持続的な制限、急速な加熱、または不適切な電圧の場合は停止してください。プローブのアースは TP0/GND にのみ接続してください。

×10 プローブで TP2 および TP3 を観察します。数サイクル後、RV1 の両方の極値で周期、ハイ時間、ロー時間を測定します。

公称計算と測定値を比較します。 TP2 はおよそ V5/3 と 2 V5/3; OUT の間を移動しますが、必ずしも正のレールに到達するとは限りません。 LED ではこれらのレベルを測定できません。

スイッチをオフにして、CT を放電し、1 µF と交換します。測定を繰り返します。公称周波数は10倍に増加します。 STOP を確認し、定常動作とは別に起動過渡状態を記録します。

レベル、設定、楽器を記録します。これらのテスト ポイントは、この書類の測定用であり、未知の入力や送信機ではありません。

過剰な電流または加熱: スイッチを切り、レール、向き、極性、短絡を確認してから再試行してください。

アクティビティなし: 実際の PDIP8 ピン配置、V5 と GND、次に RESET, TRIG と THRES を確認します。 IC を交換する前にこれらを測定してください。

発振なし: RESET、結合ピン 2 と 6、RA/RB/RV1 パス、および GND への CT 接続を確認してください。

予期しない範囲: 電源をオフにして RV1 を測定し、B に接続されているワイパーを確認して、CT 値を確認します。この回路ではデューティ サイクルの変動は正常です。

不安定な動作: 配線を短くし、ローカルのデカップリング、アース、接点を確認してください。音や LED では寄生発振の可能性を排除できません。

RBtotal には、RB と RV1 の使用部分が含まれます。方程式は、50% デューティ サイクルではなく、古典的な回路の定常動作を説明しています。 TP3 は、50 Ω ソースまたはユニバーサル ロジック出力ではありません。

公称分析値には、完全な許容誤差、コンデンサの漏れ、デバイスのばらつきが含まれていません。計算された範囲はメーカー保証ではありません。実際の測定値を空白のワークシートに記録します。

供給電圧、電流、取り付けられたコンポーネント、テストポイント、波形を記録します。提供されたワークシートは空白であり、事前入力された結果は含まれていません。

フランス語のソースとエージェントがレビューした英語のピボット。他の言語では、フィールドおよび技術トークンのチェックを伴う機械翻訳が使用されます。専門的な言語学的レビューは主張されていません。回路図とネットリストは言語を超えて共有されます。

tH ≈ 0.693 (RA + RBtotal) CT; tL ≈ 0.693 RBtotal CT

RA = 10 kΩ; RBtotal = 10…110 kΩ

CT = 10 µF → f ≈ 0.626…4.8 Hz; DH ≈ 52.2…66.7%

CT = 1 µF → f ≈ 6.26…48 Hz; DH unchanged

TP2 ≈ VCC/3…2 VCC/3; TP3: high-impedance measurement only

Texas Instruments NE555 — SLFS022K, March 2026

https://www.ti.com/lit/ds/symlink/ne555.pdf

免責事項

これらの関係書類は、教育および実験の目的でそのまま提供されます。計算、シミュレーション、およびファイル チェックは、測定されたパフォーマンスでも、組み立てられたデバイスの認定や認定でもありません。

デバイスを構築または使用する人は、回路図、コンポーネント、接続、および保護手段を確認し、製造元の指示と適用される規制に従い、完成したデバイスを使用前に検証する必要があります。デバイスによっては、電圧、高周波エネルギー、熱が感電、火傷、火災を引き起こす可能性があります。テストは有能な担当者によって、適切な保護手段を講じて低出力から開始して実施する必要があります。

法律で認められる範囲で、ON4CRD および寄稿者は、特定の目的または結果への適合性を保証せず、構築、改造、または使用から生じる損害に対する責任を負いません。この通知は、法律で除外が認められていない強制的な権利や責任を制限するものではありません。
